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    三維云紋干涉儀

  • 產品規(guī)格

    設備技術參數(shù):

    (1)試件尺寸(測試范圍):φ5mm 至 φ50mm,10X變焦鏡頭記錄條紋圖像;

    (2)原始測試分辨率:417nm (U、V場),266nm(W場),借助于相移技術可提高100倍。

    (3)微型加熱爐:內腔尺寸60mm見方,溫度范圍室溫-300C,升溫速度5-30°C 可調,可維持在某一設定溫度點,波動范圍小于1°C,內部均勻度優(yōu)于3°C。

    (4)主機箱尺寸:300mm ′300mm′275mm,設備總重量:10Kg。


該設備用于測量試件在機械或熱載荷作用下的三維變形場(面內的U,V場和離面的W場)。特別是在電子封裝領域,該設備是重要的失效分析手段。
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設備技術參數(shù):

(1)試件尺寸(測試范圍):φ5mm 至 φ50mm,10X變焦鏡頭記錄條紋圖像;

(2)原始測試分辨率:417nm (U、V場),266nm(W場),借助于相移技術可提高100倍。

(3)微型加熱爐:內腔尺寸60mm見方,溫度范圍室溫-300C,升溫速度5-30°C 可調,可維持在某一設定溫度點,波動范圍小于1°C,內部均勻度優(yōu)于3°C。

(4)主機箱尺寸:300mm ′300mm′275mm,設備總重量:10Kg。